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AEC-Q100- एकीकृत सर्किट तनाव परीक्षण प्रमाणन के आधार पर विफलता तंत्र
ऑटोमोटिव इलेक्ट्रॉनिक प्रौद्योगिकी की प्रगति के साथ, आज की कारों में कई जटिल डेटा प्रबंधन नियंत्रण प्रणाली हैं, और कई स्वतंत्र सर्किटों के माध्यम से, प्रत्येक मॉड्यूल के बीच आवश्यक संकेतों को प्रसारित करने के लिए, कार के अंदर की प्रणाली कंप्यूटर नेटवर्क के "मास्टर-स्लेव आर्किटेक्चर" की तरह है, मुख्य नियंत्रण इकाई और प्रत्येक परिधीय मॉड्यूल में, ऑटोमोटिव इलेक्ट्रॉनिक भागों को तीन श्रेणियों में विभाजित किया गया है। आईसी, असतत अर्धचालक, निष्क्रिय घटकों तीन श्रेणियों सहित, यह सुनिश्चित करने के लिए कि इन मोटर वाहन इलेक्ट्रॉनिक घटकों मोटर वाहन anquan के उच्चतम मानकों को पूरा, अमेरिकी मोटर वाहन इलेक्ट्रॉनिक्स एसोसिएशन (एईसी, मोटर वाहन इलेक्ट्रॉनिक्स परिषद मानकों का एक सेट है [एईसी-Q100] सक्रिय भागों [माइक्रोकंट्रोलर और एकीकृत सर्किट ...] और [[एईसी-Q200] निष्क्रिय घटकों के लिए डिज़ाइन किया गया है, जो उत्पाद की गुणवत्ता और विश्वसनीयता को निर्दिष्ट करता है जो निष्क्रिय भागों के लिए हासिल किया जाना चाहिए। एईसी-क्यू 100 एईसी संगठन द्वारा तैयार वाहन विश्वसनीयता परीक्षण मानक है, जो अंतरराष्ट्रीय ऑटो फैक्टरी मॉड्यूल में 3 सी और आईसी निर्माताओं के लिए एक महत्वपूर्ण प्रविष्टि है, और ताइवान आईसी की विश्वसनीयता की गुणवत्ता में सुधार करने के लिए एक महत्वपूर्ण तकनीक भी है।
AECQ-100 पास करने के लिए आवश्यक ऑटोमोटिव इलेक्ट्रॉनिक भागों की सूची:
ऑटोमोटिव डिस्पोजेबल मेमोरी, पावर सप्लाई स्टेप-डाउन रेगुलेटर, ऑटोमोटिव फोटोकपलर, थ्री-एक्सिस एक्सेलेरोमीटर सेंसर, वीडियो जिम्मा डिवाइस, रेक्टिफायर, एम्बिएंट लाइट सेंसर, नॉन-वोलेटाइल फेरोइलेक्ट्रिक मेमोरी, पावर मैनेजमेंट आईसी, एम्बेडेड फ्लैश मेमोरी, डीसी/डीसी रेगुलेटर, वाहन गेज नेटवर्क संचार डिवाइस, एलसीडी ड्राइवर आईसी, सिंगल पावर सप्लाई डिफरेंशियल एम्पलीफायर, कैपेसिटिव प्रॉक्सिमिटी स्विच ऑफ, हाई ब्राइटनेस एलईडी ड्राइवर, एसिंक्रोनस स्विचर, 600V आईसी, जीपीएस आईसी, एडीएएस एडवांस्ड ड्राइवर असिस्टेंस सिस्टम चिप, जीएनएसएस रिसीवर, जीएनएसएस फ्रंट-एंड एम्पलीफायर... चलिए इंतजार करते हैं।
AEC-Q100 श्रेणियाँ और परीक्षण:
विवरण: AEC-Q100 विनिर्देश 7 प्रमुख श्रेणियाँ कुल 41 परीक्षण
ग्रुप ए- त्वरित पर्यावरण तनाव परीक्षण में 6 परीक्षण शामिल हैं: पीसी, टीएचबी, एचएएसटी, एसी, यूएचएसटी, टीएच, टीसी, पीटीसी, एचटीएसएल
ग्रुप बी- त्वरित जीवनकाल सिमुलेशन परीक्षण में तीन परीक्षण शामिल हैं: एचटीओएल, ईएलएफआर, और ईडीआर
पैकेज असेंबली अखंडता परीक्षण में 6 परीक्षण शामिल हैं: WBS, WBP, SD, PD, SBS, LI
ग्रुप डी- डाई फैब्रिकेशन विश्वसनीयता परीक्षण में 5 परीक्षण शामिल हैं: ईएम, टीडीडीबी, एचसीआई, एनबीटीआई, एसएम
विद्युत सत्यापन परीक्षणों के समूह में 11 परीक्षण शामिल हैं, जिनमें टेस्ट, एफजी, एचबीएम/एमएम, सीडीएम, एलयू, ईडी, सीएचएआर, जीएल, ईएमसी, एससी और एसईआर शामिल हैं
क्लस्टर एफ-दोष स्क्रीनिंग परीक्षण: 11 परीक्षण, जिनमें शामिल हैं: PAT, SBA
कैविटी पैकेज इंटीग्रिटी टेस्ट में 8 परीक्षण शामिल हैं, जिनमें शामिल हैं: एमएस, वीएफवी, सीए, जीएफएल, ड्रॉप, एलटी, डीएस, आईडब्ल्यूवी
परीक्षण वस्तुओं का संक्षिप्त विवरण:
एसी: प्रेशर कुकर
सीए: निरंतर त्वरण
सीडीएम: इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज चार्ज डिवाइस मोड
CHAR: सुविधा विवरण को इंगित करता है
ड्रॉप: पैकेज गिर जाता है
डीएस: चिप कतरनी परीक्षण
ईडी: विद्युत वितरण
ईडीआर: गैर-विफलता-प्रवण भंडारण स्थायित्व, डेटा प्रतिधारण, कार्यशील जीवन
ईएलएफआर: प्रारंभिक जीवन विफलता दर
ईएम: इलेक्ट्रोमाइग्रेशन
ईएमसी: विद्युतचुंबकीय संगतता
FG: दोष स्तर
जीएफएल: मोटे/बारीक वायु रिसाव परीक्षण
जीएल: थर्मोइलेक्ट्रिक प्रभाव के कारण गेट लीकेज
एचबीएम: इलेक्ट्रोस्टेटिक डिस्चार्ज के मानवीय मोड को इंगित करता है
एचटीएसएल: उच्च तापमान भंडारण जीवन
एचटीओएल: उच्च तापमान कार्य जीवन
एचसीएल: गर्म वाहक इंजेक्शन प्रभाव
IWV: आंतरिक आर्द्रताग्राही परीक्षण
LI: पिन अखंडता
एलटी: कवर प्लेट टॉर्क परीक्षण
एलयू: लैचिंग प्रभाव
एमएम: इलेक्ट्रोस्टेटिक डिस्चार्ज के यांत्रिक मोड को इंगित करता है
एमएस: यांत्रिक झटका
एनबीटीआई: समृद्ध पूर्वाग्रह तापमान अस्थिरता
PAT: प्रक्रिया औसत परीक्षण
पीसी: प्रीप्रोसेसिंग
पीडी: भौतिक आकार
पीटीसी: पावर तापमान चक्र
एसबीए: सांख्यिकीय उपज विश्लेषण
एसबीएस: टिन बॉल शियरिंग
एससी: शॉर्ट सर्किट सुविधा
एसडी: वेल्डेबिलिटी
एसईआर: सॉफ्ट त्रुटि दर
एसएम: तनाव प्रवास
टीसी: तापमान चक्र
टीडीडीबी: परावैद्युत विखंडन के माध्यम से समय
परीक्षण: तनाव परीक्षण से पहले और बाद में फ़ंक्शन पैरामीटर
TH: बिना किसी पूर्वाग्रह के नमी और गर्मी
टीएचबी, एचएएसटी: लागू पूर्वाग्रह के साथ तापमान, आर्द्रता या उच्च त्वरित तनाव परीक्षण
यूएचएसटी: बिना पूर्वाग्रह के उच्च त्वरण तनाव परीक्षण
वीएफवी: यादृच्छिक कंपन
WBS: वेल्डिंग तार काटना
WBP: वेल्डिंग तार तनाव
तापमान और आर्द्रता परीक्षण की स्थिति परिष्करण:
THB (तापमान और आर्द्रता लागू पूर्वाग्रह के साथ, JESD22 A101 के अनुसार): 85℃/85%RH/1000h/पूर्वाग्रह
HAST (JESD22 A110 के अनुसार उच्च त्वरित तनाव परीक्षण): 130℃/85%RH/96h/पूर्वाग्रह, 110℃/85%RH/264h/पूर्वाग्रह
एसी प्रेशर कुकर, JEDS22-A102 के अनुसार: 121 ℃/100%RH/96h
UHST उच्च त्वरण तनाव परीक्षण बिना किसी पूर्वाग्रह के, JEDS22-A118 के अनुसार, उपकरण: HAST-S): 110℃/85%RH/264h
TH कोई पूर्वाग्रह नम गर्मी, JEDS22-A101 के अनुसार, उपकरण: THS): 85℃/85%RH/1000h
टीसी (तापमान चक्र, जेईडीएस22-ए104 के अनुसार, उपकरण: टीएसके, टीसी):
स्तर 0: -50℃←→150℃/2000चक्र
स्तर 1: -50℃←→150℃/1000चक्र
स्तर 2: -50℃←→150℃/500चक्र
स्तर 3: -50℃←→125℃/500चक्र
स्तर 4: -10℃←→105℃/500चक्र
पीटीसी (पावर तापमान चक्र, जेईडीएस22-ए105 के अनुसार, उपकरण: टीएसके):
स्तर 0: -40℃←→150℃/1000चक्र
स्तर 1: -65℃←→125℃/1000चक्र
स्तर 2 से 4: -65℃←→105℃/500चक्र
HTSL (उच्च तापमान भंडारण जीवन, JEDS22-A103, डिवाइस: ओवन):
प्लास्टिक पैकेज भाग: ग्रेड 0:150 ℃/2000h
ग्रेड 1:150 ℃/1000h
ग्रेड 2 से 4:125 ℃/1000h या 150 ℃/5000h
सिरेमिक पैकेज भाग: 200℃/72h
HTOL (उच्च तापमान कार्य जीवन, JEDS22-A108, उपकरण: ओवन):
ग्रेड 0:150 ℃/1000h
कक्षा 1:150℃/408h या 125℃/1000h
ग्रेड 2:125℃/408h या 105℃/1000h
ग्रेड 3:105℃/408h या 85℃/1000h
वर्ग 4:90℃/408h या 70℃/1000h
ELFR (प्रारंभिक जीवन विफलता दर, AEC-Q100-008) इस तनाव परीक्षण में सफल होने वाले उपकरणों का उपयोग अन्य तनाव परीक्षणों के लिए किया जा सकता है, सामान्य डेटा का उपयोग किया जा सकता है, तथा ELFR से पहले और बाद के परीक्षण हल्के और उच्च तापमान की स्थितियों में किए जाते हैं।