AEC-Q100- एकीकृत सर्किट तनाव परीक्षण प्रमाणन के आधार पर विफलता तंत्रऑटोमोटिव इलेक्ट्रॉनिक प्रौद्योगिकी की प्रगति के साथ, आज की कारों में कई जटिल डेटा प्रबंधन नियंत्रण प्रणाली हैं, और कई स्वतंत्र सर्किटों के माध्यम से, प्रत्येक मॉड्यूल के बीच आवश्यक संकेतों को प्रसारित करने के लिए, कार के अंदर की प्रणाली कंप्यूटर नेटवर्क के "मास्टर-स्लेव आर्किटेक्चर" की तरह है, मुख्य नियंत्रण इकाई और प्रत्येक परिधीय मॉड्यूल में, ऑटोमोटिव इलेक्ट्रॉनिक भागों को तीन श्रेणियों में विभाजित किया गया है। आईसी, असतत अर्धचालक, निष्क्रिय घटकों तीन श्रेणियों सहित, यह सुनिश्चित करने के लिए कि इन मोटर वाहन इलेक्ट्रॉनिक घटकों मोटर वाहन anquan के उच्चतम मानकों को पूरा, अमेरिकी मोटर वाहन इलेक्ट्रॉनिक्स एसोसिएशन (एईसी, मोटर वाहन इलेक्ट्रॉनिक्स परिषद मानकों का एक सेट है [एईसी-Q100] सक्रिय भागों [माइक्रोकंट्रोलर और एकीकृत सर्किट ...] और [[एईसी-Q200] निष्क्रिय घटकों के लिए डिज़ाइन किया गया है, जो उत्पाद की गुणवत्ता और विश्वसनीयता को निर्दिष्ट करता है जो निष्क्रिय भागों के लिए हासिल किया जाना चाहिए। एईसी-क्यू 100 एईसी संगठन द्वारा तैयार वाहन विश्वसनीयता परीक्षण मानक है, जो अंतरराष्ट्रीय ऑटो फैक्टरी मॉड्यूल में 3 सी और आईसी निर्माताओं के लिए एक महत्वपूर्ण प्रविष्टि है, और ताइवान आईसी की विश्वसनीयता की गुणवत्ता में सुधार करने के लिए एक महत्वपूर्ण तकनीक भी है।AECQ-100 पास करने के लिए आवश्यक ऑटोमोटिव इलेक्ट्रॉनिक भागों की सूची:ऑटोमोटिव डिस्पोजेबल मेमोरी, पावर सप्लाई स्टेप-डाउन रेगुलेटर, ऑटोमोटिव फोटोकपलर, थ्री-एक्सिस एक्सेलेरोमीटर सेंसर, वीडियो जिम्मा डिवाइस, रेक्टिफायर, एम्बिएंट लाइट सेंसर, नॉन-वोलेटाइल फेरोइलेक्ट्रिक मेमोरी, पावर मैनेजमेंट आईसी, एम्बेडेड फ्लैश मेमोरी, डीसी/डीसी रेगुलेटर, वाहन गेज नेटवर्क संचार डिवाइस, एलसीडी ड्राइवर आईसी, सिंगल पावर सप्लाई डिफरेंशियल एम्पलीफायर, कैपेसिटिव प्रॉक्सिमिटी स्विच ऑफ, हाई ब्राइटनेस एलईडी ड्राइवर, एसिंक्रोनस स्विचर, 600V आईसी, जीपीएस आईसी, एडीएएस एडवांस्ड ड्राइवर असिस्टेंस सिस्टम चिप, जीएनएसएस रिसीवर, जीएनएसएस फ्रंट-एंड एम्पलीफायर... चलिए इंतजार करते हैं।AEC-Q100 श्रेणियाँ और परीक्षण:विवरण: AEC-Q100 विनिर्देश 7 प्रमुख श्रेणियाँ कुल 41 परीक्षणग्रुप ए- त्वरित पर्यावरण तनाव परीक्षण में 6 परीक्षण शामिल हैं: पीसी, टीएचबी, एचएएसटी, एसी, यूएचएसटी, टीएच, टीसी, पीटीसी, एचटीएसएलग्रुप बी- त्वरित जीवनकाल सिमुलेशन परीक्षण में तीन परीक्षण शामिल हैं: एचटीओएल, ईएलएफआर, और ईडीआरपैकेज असेंबली अखंडता परीक्षण में 6 परीक्षण शामिल हैं: WBS, WBP, SD, PD, SBS, LIग्रुप डी- डाई फैब्रिकेशन विश्वसनीयता परीक्षण में 5 परीक्षण शामिल हैं: ईएम, टीडीडीबी, एचसीआई, एनबीटीआई, एसएमविद्युत सत्यापन परीक्षणों के समूह में 11 परीक्षण शामिल हैं, जिनमें टेस्ट, एफजी, एचबीएम/एमएम, सीडीएम, एलयू, ईडी, सीएचएआर, जीएल, ईएमसी, एससी और एसईआर शामिल हैंक्लस्टर एफ-दोष स्क्रीनिंग परीक्षण: 11 परीक्षण, जिनमें शामिल हैं: PAT, SBAकैविटी पैकेज इंटीग्रिटी टेस्ट में 8 परीक्षण शामिल हैं, जिनमें शामिल हैं: एमएस, वीएफवी, सीए, जीएफएल, ड्रॉप, एलटी, डीएस, आईडब्ल्यूवीपरीक्षण वस्तुओं का संक्षिप्त विवरण:एसी: प्रेशर कुकरसीए: निरंतर त्वरणसीडीएम: इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज चार्ज डिवाइस मोडCHAR: सुविधा विवरण को इंगित करता हैड्रॉप: पैकेज गिर जाता हैडीएस: चिप कतरनी परीक्षणईडी: विद्युत वितरणईडीआर: गैर-विफलता-प्रवण भंडारण स्थायित्व, डेटा प्रतिधारण, कार्यशील जीवनईएलएफआर: प्रारंभिक जीवन विफलता दरईएम: इलेक्ट्रोमाइग्रेशनईएमसी: विद्युतचुंबकीय संगतताFG: दोष स्तरजीएफएल: मोटे/बारीक वायु रिसाव परीक्षणजीएल: थर्मोइलेक्ट्रिक प्रभाव के कारण गेट लीकेजएचबीएम: इलेक्ट्रोस्टेटिक डिस्चार्ज के मानवीय मोड को इंगित करता हैएचटीएसएल: उच्च तापमान भंडारण जीवनएचटीओएल: उच्च तापमान कार्य जीवनएचसीएल: गर्म वाहक इंजेक्शन प्रभावIWV: आंतरिक आर्द्रताग्राही परीक्षणLI: पिन अखंडताएलटी: कवर प्लेट टॉर्क परीक्षणएलयू: लैचिंग प्रभावएमएम: इलेक्ट्रोस्टेटिक डिस्चार्ज के यांत्रिक मोड को इंगित करता हैएमएस: यांत्रिक झटकाएनबीटीआई: समृद्ध पूर्वाग्रह तापमान अस्थिरताPAT: प्रक्रिया औसत परीक्षणपीसी: प्रीप्रोसेसिंगपीडी: भौतिक आकारपीटीसी: पावर तापमान चक्रएसबीए: सांख्यिकीय उपज विश्लेषणएसबीएस: टिन बॉल शियरिंगएससी: शॉर्ट सर्किट सुविधाएसडी: वेल्डेबिलिटीएसईआर: सॉफ्ट त्रुटि दरएसएम: तनाव प्रवासटीसी: तापमान चक्रटीडीडीबी: परावैद्युत विखंडन के माध्यम से समयपरीक्षण: तनाव परीक्षण से पहले और बाद में फ़ंक्शन पैरामीटरTH: बिना किसी पूर्वाग्रह के नमी और गर्मीटीएचबी, एचएएसटी: लागू पूर्वाग्रह के साथ तापमान, आर्द्रता या उच्च त्वरित तनाव परीक्षणयूएचएसटी: बिना पूर्वाग्रह के उच्च त्वरण तनाव परीक्षणवीएफवी: यादृच्छिक कंपनWBS: वेल्डिंग तार काटनाWBP: वेल्डिंग तार तनावतापमान और आर्द्रता परीक्षण की स्थिति परिष्करण:THB (तापमान और आर्द्रता लागू पूर्वाग्रह के साथ, JESD22 A101 के अनुसार): 85℃/85%RH/1000h/पूर्वाग्रहHAST (JESD22 A110 के अनुसार उच्च त्वरित तनाव परीक्षण): 130℃/85%RH/96h/पूर्वाग्रह, 110℃/85%RH/264h/पूर्वाग्रहएसी प्रेशर कुकर, JEDS22-A102 के अनुसार: 121 ℃/100%RH/96hUHST उच्च त्वरण तनाव परीक्षण बिना किसी पूर्वाग्रह के, JEDS22-A118 के अनुसार, उपकरण: HAST-S): 110℃/85%RH/264hTH कोई पूर्वाग्रह नम गर्मी, JEDS22-A101 के अनुसार, उपकरण: THS): 85℃/85%RH/1000hटीसी (तापमान चक्र, जेईडीएस22-ए104 के अनुसार, उपकरण: टीएसके, टीसी):स्तर 0: -50℃←→150℃/2000चक्रस्तर 1: -50℃←→150℃/1000चक्रस्तर 2: -50℃←→150℃/500चक्रस्तर 3: -50℃←→125℃/500चक्रस्तर 4: -10℃←→105℃/500चक्रपीटीसी (पावर तापमान चक्र, जेईडीएस22-ए105 के अनुसार, उपकरण: टीएसके):स्तर 0: -40℃←→150℃/1000चक्रस्तर 1: -65℃←→125℃/1000चक्रस्तर 2 से 4: -65℃←→105℃/500चक्रHTSL (उच्च तापमान भंडारण जीवन, JEDS22-A103, डिवाइस: ओवन):प्लास्टिक पैकेज भाग: ग्रेड 0:150 ℃/2000hग्रेड 1:150 ℃/1000hग्रेड 2 से 4:125 ℃/1000h या 150 ℃/5000hसिरेमिक पैकेज भाग: 200℃/72hHTOL (उच्च तापमान कार्य जीवन, JEDS22-A108, उपकरण: ओवन):ग्रेड 0:150 ℃/1000hकक्षा 1:150℃/408h या 125℃/1000hग्रेड 2:125℃/408h या 105℃/1000hग्रेड 3:105℃/408h या 85℃/1000hवर्ग 4:90℃/408h या 70℃/1000h ELFR (प्रारंभिक जीवन विफलता दर, AEC-Q100-008) इस तनाव परीक्षण में सफल होने वाले उपकरणों का उपयोग अन्य तनाव परीक्षणों के लिए किया जा सकता है, सामान्य डेटा का उपयोग किया जा सकता है, तथा ELFR से पहले और बाद के परीक्षण हल्के और उच्च तापमान की स्थितियों में किए जाते हैं।
एक कहावत कहना
IPv6 नेटवर्क समर्थित