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तापमान चक्रण परीक्षण
तापमान चक्रण, वास्तविक उपयोग के वातावरण में विभिन्न इलेक्ट्रॉनिक घटकों द्वारा सामना की जाने वाली तापमान स्थितियों का अनुकरण करने के लिए, परिवेश के तापमान अंतर सीमा को बदलना और तापमान में तेजी से वृद्धि और गिरावट परिवर्तन एक अधिक कठोर परीक्षण वातावरण प्रदान कर सकता है, लेकिन यह ध्यान दिया जाना चाहिए कि सामग्री परीक्षण के लिए अतिरिक्त प्रभाव हो सकते हैं। तापमान चक्र परीक्षण की प्रासंगिक अंतरराष्ट्रीय मानक परीक्षण स्थितियों के लिए, तापमान परिवर्तन को सेट करने के दो तरीके हैं। मैक्रोशो टेक्नोलॉजी एक सहज सेटिंग इंटरफ़ेस प्रदान करती है, जो उपयोगकर्ताओं के लिए विनिर्देश के अनुसार सेट करने के लिए सुविधाजनक है। आप कुल रैंप समय चुन सकते हैं या प्रति मिनट तापमान परिवर्तन दर के साथ वृद्धि और शीतलन दर निर्धारित कर सकते हैं।
तापमान चक्रण परीक्षणों के लिए अंतर्राष्ट्रीय विनिर्देशों की सूची:
कुल रैंप समय (मिनट) : JESD22-A104, MIL-STD-8831, CR200315
प्रति मिनट तापमान परिवर्तन (℃/मिनट) : IEC 60749, IPC-9701, Bellcore-GR-468, MIL-2164
उदाहरण: सीसा रहित सोल्डर जोड़ विश्वसनीयता परीक्षण
निर्देश: सीसा रहित सोल्डर जोड़ों की विश्वसनीयता परीक्षण के लिए, तापमान परिवर्तन सेटिंग मोड के संदर्भ में विभिन्न परीक्षण स्थितियां भी भिन्न होंगी। उदाहरण के लिए, (JEDEC JESD22-A104) कुल समय [10 मिनट] के साथ तापमान परिवर्तन समय निर्दिष्ट करेगा, जबकि अन्य स्थितियाँ तापमान परिवर्तन दर [10 ℃ / मिनट] के साथ निर्दिष्ट करेंगी, जैसे कि 100 ℃ से 0 ℃ तक। 10 डिग्री प्रति मिनट के तापमान परिवर्तन के साथ, यानी कुल तापमान परिवर्तन समय 10 मिनट है।
100℃ [10मिनट]←→0℃[10मिनट], रैंप: 10℃/मिनट, 6500चक्र
-40℃[5मिनट]←→125℃ [5मिनट], रैंप: 10मिनट,
एक बार 200 चक्र जांच, 2000 चक्र तन्यता परीक्षण [JEDEC JESD22-A104]
-40℃(15मिनट)←→125℃(15मिनट), रैंप: 15मिनट, 2000चक्र
उदाहरण: एलईडी ऑटोमोटिव लाइटिंग (हाई पावर एलईडी)
एलईडी कार रोशनी की तापमान चक्र परीक्षण स्थिति 30 मिनट के लिए -40 डिग्री सेल्सियस से 100 डिग्री सेल्सियस है, कुल तापमान परिवर्तन समय 5 मिनट है, यदि तापमान परिवर्तन दर में परिवर्तित हो, तो यह 28 डिग्री प्रति मिनट (28 डिग्री सेल्सियस / मिनट) है।
परीक्षण की स्थितियाँ: -40℃(30मिनट)←→100℃(30मिनट), रैंप: 5मिनट