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टेल्कोर्डिया (बेलकोरे) GR-468-कोर

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टेल्कोर्डिया (बेलकोरे) GR-468-कोर

February 03, 2025

टेल्कोर्डिया (बेलकोरे) GR-468-कोर

  1. ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक उपकरणों के लिए विश्वसनीयता आश्वासन आवश्यकता
  2. घटक स्तर गुणवत्ता (लेजर डायोड, एलईडी, पीडी, ...)
  3. यांत्रिक, पर्यावरण और विद्युत
  4. समानांतर परीक्षण
  5. अखंडता परीक्षण – कठोर परीक्षण स्थितियाँ
  6. लंबी अवधि
  7. नमूनाकरण योजना
  8. ऑप्टिकल इलेक्ट्रिकल कार्यात्मक परीक्षण
  9. पास/फेल मानदंड

जीआर-468 परीक्षण योग्यता में शामिल हैं:

1.1कार्यक्षेत्र और उद्देश्य । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । ।. . . . . . . . .1–1
1.2विश्वसनीयता आश्वासन – अवलोकन और दर्शन . . . . . . .. . . . . . . . .1-2
 1.2.1विश्वसनीयता आश्वासन का अवलोकन . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . .1-2
 1.2.2विश्वसनीयता आश्वासन सामान्य आवश्यकताएँ दर्शन. . . . . . . . .1–3
1.3दस्तावेज़ इतिहास । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । ।1–4
 1.3.1GR-468-CORE के अंक 1 और 2 के बीच परिवर्तन . . . . . . . . . . . .1–4
 1.3.2TR-NWT-000468/TA-NWT-000983 और GR-468-CORE के बीच परिवर्तन, 
  अंक 1 । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । ।. . . . . . . . .1–5
1.4संबंधित टेल्कोर्डिया दस्तावेज़ . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . .1–6
1.5शब्दावली . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . .1–7
 1.5.1डिवाइस शब्दावली . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . .1–7
 1.5.2आपूर्तिकर्ता, निर्माता और ग्राहक . . . . . . .. . . . . . . . . 1–11
 1.5.3परिचालन वातावरण . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . . 1–11
 1.5.3.1CO पर्यावरण . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . . 1–12
 1.5.3.2यूएनसी पर्यावरण . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . . 1–12
 1.5.4गुणवत्ता स्तर . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . . 1–13
 1.5.5असफलता दर . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1–15
 1.5.6आवश्यकता शब्दावली . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1–15
1.6आवश्यकता लेबलिंग कन्वेंशन . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1–16
 1.6.1वस्तुओं की संख्या . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1–16
 1.6.2ऑब्जेक्ट सामग्री की पहचान . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1–16
 1.6.3आवश्यकता वस्तु निरपेक्ष संख्या असाइनमेंट . . . . . . . . . . . . . 1–17
      

 

2 विश्वसनीयता आश्वासन प्रक्रियाएँ

2.1 आपूर्तिकर्ता अनुमोदन और डिवाइस योग्यता . . . . . . . . . . . . . . . ...2–1
2.1.1विशिष्टता और नियंत्रण . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ...2–2
2.1.2आपूर्तिकर्ता अनुमोदन . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ...2–2
2.1.3डिवाइस योग्यता के लिए सामान्य प्रक्रिया-संबंधी मानदंड . . . . ...2–3
2.1.3.1योग्यता परीक्षण दस्तावेज़ीकरण . . . . . . . . . . . . . . ...2–3
2.1.3.2 समानता के आधार पर उपकरणों की योग्यता . . . . . . . . . . . . ...2–5
2.1.3.3योग्यता के लिए सभा के स्तर . . . . . . . . . . . . . ...2–5
2.1.3.4 उपकरणों का अनंतिम उपयोग . . . . . . . . . . . . . . . . . ...2–6
2.1.3.5 आपूर्तिकर्ता द्वारा प्रदत्त डेटा का उपयोग . . . . . . . . . . . . . . . ...2–8
2.1.3.6आंतरिक रूप से निर्मित उपकरणों का उपचार . . . . . . . . ...2–8
2.1.3.7योग्यता परीक्षण के लिए नमूनाकरण . . . . . . . . . . . . . . ...2–9
 2.1.3.7.1एलटीपीडी नमूनाकरण योजना . . . . . . . . . . . . . . . . . . ...2–9
 2.1.3.7.2योग्यता के लिए गैर-अनुरूप उपकरणों का उपयोग . . . . ... 2–10
 2.1.3.7.3कम मात्रा वाले भागों का उपचार . . . . . . . . . . . . ... 2–11
 2.1.3.7.4अतिरिक्त नमूनों के लिए अभिलक्षण परीक्षण डेटा . . . ... 2–11
 2.1.3.7.5तनाव परीक्षण के लिए अतिरिक्त विचार . . . . . . ... 2–11
2.1.3.8डिवाइस कोड जो योग्यता में असफल होते हैं . . . . . . . . . . . . . ... 2–12
2.1.4पुनः योग्यता । . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ... 2–13
       

 

2.2लॉट-टू-लॉट नियंत्रण . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–15
 2.2.1लॉट की परिभाषा . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–15
 2.2.2खरीद विनिर्देश. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-16
 2.2.3लॉट-टू-लॉट नियंत्रण के लिए नमूनाकरण . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–16
 2.2.3.1AQL-आधारित नमूनाकरण. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-17
 2.2.3.2 कम मात्रा वाले भागों का उपचार . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–17
 2.2.4स्रोत निरीक्षण/आगमन निरीक्षण . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–18
 2.2.4.1 आपूर्तिकर्ता द्वारा प्रदत्त डेटा का उपयोग . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–18
 2.2.4.2आंतरिक रूप से निर्मित उपकरणों का उपचार . . . . . . . . . . . . 2–19
 2.2.4.3खरीदे गए मॉड्यूल में प्रयुक्त डिवाइस के लिए नियंत्रण . . . . . . . . . . 2–19
 2.2.5लॉट-टू-लॉट नियंत्रण दस्तावेज़ीकरण . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–19
 2.2.6लॉट-टू-लॉट नियंत्रण परीक्षण क्षेत्र. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-20
 2.2.6.1दृश्य निरीक्षण. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-20
 2.2.6.2विद्युत और ऑप्टिकल परीक्षण. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-21
 2.2.6.3स्क्रीनिंग... . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-21
 2.2.7डेटा रिकॉर्डिंग और अवधारण . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–22
 2.2.8आपूर्तिकर्ता इतिहास डेटा का सारांश. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-23
 2.2.9दोषपूर्ण उपकरणों और लॉट्स का उपचार . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–23
 2.2.10शिप-टू-स्टॉक कार्यक्रम . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–23
2.3 फीडबैक और सुधारात्मक कार्रवाई . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–25
 2.3.1लॉट-टू-लॉट नियंत्रण डेटा . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–26
 2.3.2सर्किट पैक परीक्षण और बर्न-इन. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-26
 2.3.3सिस्टम-स्तरीय परीक्षण और बर्न-इन . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–27
 2.3.4फील्ड रिटर्न की मरम्मत . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–27
 2.3.5अपुष्ट सर्किट पैक विफलताएँ. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-27
 2.3.6डेटा संग्रह और विश्लेषण . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–28
 2.3.7डिवाइस विफलता विश्लेषण . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–28
2.4 डिवाइस भंडारण और हैंडलिंग . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–29
 2.4.1गैर अनुरूप सामग्री . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–29
 2.4.2सामग्री समीक्षा प्रणाली. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-29
 2.4.3स्टॉकरूम इन्वेंटरी प्रथाएँ . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-29
 2.4.3.1FIFO इन्वेंटरी नीति. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-29
 2.4.3.2 पुनः तैयार किये गये भाग . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–30
 2.4.4ईएसडी सावधानियाँ . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–30
2.5दस्तावेज़ीकरण और परीक्षण डेटा. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-31
 2.5.1दस्तावेज़ों की उपलब्धता. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-32
 2.5.2अन्य जानकारी की उपलब्धता. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-32
2.6 डिवाइस की उपलब्धता . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–33
2.7पर्यावरण, स्वास्थ्य, सुरक्षा और भौतिक डिज़ाइन संबंधी विचार . . . . . . 2–33
 2.7.1पर्यावरण संबंधी विचार . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–33
 2.7.2स्वास्थ्य संबंधी विचार. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-33
 2.7.3सुरक्षा संबंधी विचार – ज्वलनशीलता . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–34
 2.7.4भौतिक डिज़ाइन संबंधी विचार. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-34
 2.7.4.1वायुरुद्धता . . . . . . .. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-34
 2.7.4.2सोल्डर फ्लक्स . . . . . . . .. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2-35
 2.7.4.3स्वीकार्य टर्मिनल और लीड फिनिश . . . . . . . . . . . . . . . . . 2–35
         

 

3 परीक्षण प्रक्रियाएँ

 

3.1सामान्य परीक्षण प्रक्रिया मानदंड . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3–1
 3.1.1मानकीकृत परीक्षण प्रक्रियाएं . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3–1
 3.1.2परीक्षण उपकरण । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । । ।3–2
 3.1.3पास/फेल मापदंड की स्थापना . . . . . . . . . . . . . . . . . .3–2
 3.1.4वैकल्पिक परीक्षण स्थितियाँ . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3–2
 3.1.4.1 समतुल्य परीक्षण स्थितियों की गणना . . . . . . . . . . . .3–3
 3.1.4.2 सक्रियण ऊर्जा . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3–4
 3.1.4.3 एकाधिक विफलता से संबंधित अतिरिक्त विचार 
  तंत्र . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3–5
3.2लक्षण-वर्णन परीक्षण प्रक्रियाएं . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3–6
 3.2.1वर्णक्रमीय विशेषताएँ . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3–6
 3.2.1.1 एमएलएम लेज़रों के लिए वर्णक्रमीय विशेषताएँ . . . . . . . . . . . . .3–7
 3.2.1.2 एसएलएम लेज़रों के लिए वर्णक्रमीय विशेषताएँ . . . . . . . . . . . . .3–9

3.2.1.2.1 सतत तरंग लेज़रों के लिए विचार . . . . . . . . . . 3–10

3.2.1.2.2 WDM लेज़रों के लिए विचार . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–11

3.2.1.2.3ट्यूनेबल लेज़रों के लिए विचारणीय बातें . . . . . .. . .. . ...3–12
3.2.1.2.4उच्च बिट-दर अनुप्रयोगों के लिए विचार. . .. . ...3–12

3.2.1.3 एलईडी के लिए वर्णक्रमीय विशेषताएं . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–13

3.2.2 आउटपुट पावर/ड्राइव करंट विशेषताएँ . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–14

3.2.2.1 सामान्य आउटपुट पावर और LI वक्र माप

 विचार . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . 3–14
3.2.2.2लेजर थ्रेशोल्ड करंट . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . 3–16
3.2.2.3लेजर थ्रेशोल्ड वर्तमान तापमान संवेदनशीलता . .. . . . . . . . 3–16
3.2.2.4विशेष धारा स्तर पर आउटपुट पावर स्तर . .. . . . . . . . 3–17
3.2.2.4.1थ्रेशोल्ड करंट पर लेजर आउटपुट पावर .. . . . . . . . 3–17
3.2.2.4.2एलईडी आउटपुट पावर . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . 3–17
3.2.2.5लेज़र LI वक्र की रैखिकता . . . . . . . . . . .. . . . . . . . 3–17
3.2.2.5.1समग्र रैखिकता . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . 3–18
3.2.2.5.2 गड़बड़ियां . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . 3–18
3.2.2.5.3संतृप्ति . . . . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . 3–19
3.2.2.6लेज़र ढलान दक्षता . . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . 3–19
3.2.2.7सापेक्ष तीव्रता शोर . . . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . 3–20
3.2.2.8ईईएलईडी सुपरलुमिनेसेंस . . . . . . . . . . . . .. . . . . . . . 3–20
    

3.2.2.9 ईईएलईडी लेज़िंग थ्रेशोल्ड . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–20

3.2.3लेज़र वोल्टेज-करंट कर्व . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–20
3.2.4मॉडुलित आउटपुट अभिलक्षण . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–21
3.2.4.1मॉड्युलेटेड सिग्नल आकार. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3-21
 3.2.4.1.1 नेत्र पैटर्
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