IEEE1513 तापमान चक्र परीक्षण और आर्द्रता हिमीकरण परीक्षण, थर्मल-आर्द्रता परीक्षण 2चरण:दोनों मॉड्यूल -40 °C और 60 °C के बीच 200 चक्र तापमान चक्र या -40 °C और 90 °C के बीच 50 चक्र तापमान चक्र निष्पादित करेंगे, जैसा कि ASTM E1171-99 में निर्दिष्ट है।टिप्पणी:ASTM E1171-01: लूप तापमान और आर्द्रता पर फोटोइलेक्ट्रिक मापांक के लिए परीक्षण विधिसापेक्ष आर्द्रता को नियंत्रित करने की आवश्यकता नहीं है।तापमान में परिवर्तन 100°C/घंटा से अधिक नहीं होना चाहिए।निवास समय कम से कम 10 मिनट होना चाहिए और उच्च और निम्न तापमान ± 5 ℃ की आवश्यकता के भीतर होना चाहिएआवश्यकताएं:क. चक्र परीक्षण के बाद मॉड्यूल का किसी भी स्पष्ट क्षति या गिरावट के लिए निरीक्षण किया जाएगा।(ख) मॉड्यूल में कोई दरार या टेढ़ापन नहीं दिखना चाहिए, तथा सीलिंग सामग्री अलग नहीं होनी चाहिए।सी. यदि चयनात्मक विद्युत कार्य परीक्षण है, तो कई मूल बुनियादी मापदंडों की समान स्थितियों के तहत आउटपुट पावर 90% या उससे अधिक होनी चाहिएजोड़ा गया:IEEE1513-4.1.1 मॉड्यूल प्रतिनिधि या रिसीवर परीक्षण नमूना, यदि एक पूर्ण मॉड्यूल या रिसीवर का आकार मौजूदा पर्यावरण परीक्षण कक्ष में फिट होने के लिए बहुत बड़ा है, तो मॉड्यूल प्रतिनिधि या रिसीवर परीक्षण नमूने को पूर्ण आकार के मॉड्यूल या रिसीवर के लिए प्रतिस्थापित किया जा सकता है।इन परीक्षण नमूनों को विशेष रूप से एक प्रतिस्थापन रिसीवर के साथ जोड़ा जाना चाहिए, जैसे कि एक पूर्ण आकार के रिसीवर से जुड़े कोशिकाओं की एक स्ट्रिंग होती है, बैटरी स्ट्रिंग लंबी होनी चाहिए और इसमें कम से कम दो बाईपास डायोड शामिल होने चाहिए, लेकिन किसी भी मामले में तीन कोशिकाएं अपेक्षाकृत कम हैं, जो प्रतिस्थापन रिसीवर टर्मिनल के साथ लिंक के समावेश को सारांशित करती हैं, पूर्ण मॉड्यूल के समान ही होना चाहिए।प्रतिस्थापन रिसीवर में अन्य मॉड्यूल के प्रतिनिधि घटक शामिल होंगे, जिनमें लेंस/लेंस हाउसिंग, रिसीवर/रिसीवर हाउसिंग, रियर सेगमेंट/रियर सेगमेंट लेंस, केस और रिसीवर कनेक्टर शामिल होंगे, प्रक्रिया ए, बी और सी का परीक्षण किया जाएगा।आउटडोर एक्सपोजर परीक्षण प्रक्रिया डी के लिए दो पूर्ण आकार के मॉड्यूल का उपयोग किया जाना चाहिए।IEEE1513-5.8 आर्द्रता फ्रीज चक्र परीक्षण आर्द्रता फ्रीज चक्र परीक्षणरिसीवरउद्देश्य:यह निर्धारित करने के लिए कि क्या प्राप्त करने वाला भाग संक्षारण क्षति और नमी के विस्तार की क्षमता का प्रतिरोध करने के लिए पर्याप्त है, ताकि सामग्री के अणुओं का विस्तार हो सके। इसके अलावा, जमे हुए जल वाष्प विफलता के कारण का निर्धारण करने के लिए तनाव हैप्रक्रिया:तापमान चक्रण के बाद नमूनों का परीक्षण तालिका 3 के अनुसार किया जाएगा, तथा 85 ℃ और -40 ℃, आर्द्रता 85%, तथा 20 चक्रों पर गीले हिमीकरण परीक्षण के अधीन किया जाएगा। ASTM E1171-99 के अनुसार, बड़ी मात्रा वाला प्राप्त करने वाला छोर 4.1.1 को संदर्भित करेगा।आवश्यकताएं:प्राप्त करने वाले भाग को 5.7 की आवश्यकताओं को पूरा करना चाहिए। 2 से 4 घंटे के भीतर पर्यावरण टैंक से बाहर निकलें, और प्राप्त करने वाले भाग को उच्च-वोल्टेज इन्सुलेशन रिसाव परीक्षण की आवश्यकताओं को पूरा करना चाहिए (5.4 देखें)।मॉड्यूलउद्देश्य:निर्धारित करें कि मॉड्यूल में हानिकारक संक्षारण या सामग्री संबंध अंतर के विस्तार का प्रतिरोध करने की पर्याप्त क्षमता है या नहींप्रक्रिया: दोनों मॉड्यूलों को 20 चक्रों, 4 या 10 चक्रों के लिए 85 ° C तक गीले हिमीकरण परीक्षणों के अधीन किया जाएगा, जैसा कि ASTM E1171-99 में दिखाया गया है।कृपया ध्यान दें कि 60 ° C का अधिकतम तापमान, प्राप्त करने वाले सिरे पर गीले हिमीकरण परीक्षण खंड से कम है।दो से चार घंटे के चक्र के बाद एक पूर्ण उच्च वोल्टेज इन्सुलेशन परीक्षण (5.4 देखें) पूरा हो जाएगा। उच्च वोल्टेज इन्सुलेशन परीक्षण के बाद, 5.2 में वर्णित विद्युत प्रदर्शन परीक्षण किया जाएगा। बड़े मॉड्यूल में भी पूरा किया जा सकता है, 4.1.1 देखें।आवश्यकताएं:क. परीक्षण के बाद मॉड्यूल किसी भी स्पष्ट क्षति या गिरावट की जांच करेगा, तथा उसे रिकॉर्ड करेगा।बी. मॉड्यूल में कोई दरार, टेढ़ापन या गंभीर जंग नहीं होना चाहिए। सीलिंग सामग्री की कोई परत नहीं होनी चाहिए।सी. मॉड्यूल को IEEE1513-5.4 में वर्णित उच्च वोल्टेज इन्सुलेशन परीक्षण पास करना होगा।यदि चयनात्मक विद्युत कार्य परीक्षण हो, तो कई मूल बुनियादी मापदंडों की समान परिस्थितियों में आउटपुट शक्ति 90% या उससे अधिक तक पहुंच सकती हैIEEE1513-5.10 नम ताप परीक्षण IEEE1513-5.10 नम ताप परीक्षणउद्देश्य: दीर्घकालिक नमी घुसपैठ का सामना करने के लिए प्राप्त करने वाले छोर के प्रभाव और क्षमता का मूल्यांकन करना।प्रक्रिया: परीक्षण रिसीवर का परीक्षण ASTM E1171-99 में वर्णित अनुसार 85%±5% सापेक्ष आर्द्रता और 85 ° C ±2 ° C के साथ एक पर्यावरण परीक्षण कक्ष में किया जाता है। यह परीक्षण 1000 घंटों में पूरा किया जाना चाहिए, लेकिन उच्च वोल्टेज इन्सुलेशन रिसाव परीक्षण करने के लिए अतिरिक्त 60 घंटे जोड़े जा सकते हैं। परीक्षण के लिए प्राप्त करने वाले हिस्से का उपयोग किया जा सकता है।आवश्यकताएं: उच्च वोल्टेज इन्सुलेशन रिसाव परीक्षण (5.4 देखें) और दृश्य निरीक्षण (5.1 देखें) को पास करने के लिए प्राप्त करने वाले छोर को 2 ~ 4 घंटे के लिए नम गर्मी परीक्षण कक्ष छोड़ने की आवश्यकता होती है। यदि कोई चयनात्मक विद्युत कार्य परीक्षण है, तो कई मूल बुनियादी मापदंडों की समान स्थितियों के तहत आउटपुट पावर 90% या उससे अधिक होनी चाहिए।IEEE1513 मॉड्यूल परीक्षण और निरीक्षण प्रक्रियाएंIEEE1513-5.1 दृश्य निरीक्षण प्रक्रियाउद्देश्य: वर्तमान दृश्य स्थिति स्थापित करना ताकि प्राप्तकर्ता यह तुलना कर सके कि क्या वे प्रत्येक परीक्षण में सफल हुए हैं और यह गारंटी दे सके कि वे आगे के परीक्षण की आवश्यकताओं को पूरा करते हैं।IEEE1513-5.2 विद्युत प्रदर्शन परीक्षणउद्देश्य: परीक्षण मॉड्यूल और रिसीवर की विद्युत विशेषताओं का वर्णन करना और उनकी अधिकतम आउटपुट शक्ति का निर्धारण करना।IEEE1513-5.3 ग्राउंड निरंतरता परीक्षणउद्देश्य: सभी उजागर प्रवाहकीय घटकों और ग्राउंडिंग मॉड्यूल के बीच विद्युत निरंतरता को सत्यापित करना।IEEE1513-5.4 विद्युत अलगाव परीक्षण (शुष्क हाई-पीओ)उद्देश्य: यह सुनिश्चित करना कि सर्किट मॉड्यूल और किसी भी बाहरी संपर्क प्रवाहकीय भाग के बीच विद्युत इन्सुलेशन जंग को रोकने और श्रमिकों की सुरक्षा की रक्षा के लिए पर्याप्त है।IEEE1513-5.5 गीला इन्सुलेशन प्रतिरोध परीक्षणउद्देश्य: यह सत्यापित करना कि नमी प्राप्तकर्ता छोर के इलेक्ट्रॉनिक रूप से सक्रिय भाग में प्रवेश नहीं कर सकती, जहां यह जंग, ग्राउंड विफलता का कारण बन सकती है, या मानव सुरक्षा के लिए खतरों की पहचान कर सकती है।IEEE1513-5.6 जल स्प्रे परीक्षणउद्देश्य: फील्ड वेट रेजिस्टेंस टेस्ट (FWRT) नमी संचालन स्थितियों के आधार पर सौर सेल मॉड्यूल के विद्युत इन्सुलेशन का मूल्यांकन करता है। यह परीक्षण इसकी संरचना और वायरिंग पर भारी बारिश या ओस का अनुकरण करता है ताकि यह सत्यापित किया जा सके कि नमी इस्तेमाल किए गए सरणी सर्किट में प्रवेश नहीं करती है, जो संक्षारकता को बढ़ा सकती है, ग्राउंड विफलताओं का कारण बन सकती है, और कर्मियों या उपकरणों के लिए विद्युत सुरक्षा खतरे पैदा कर सकती है।IEEE1513-5.7 थर्मल चक्र परीक्षण (थर्मल चक्र परीक्षण)उद्देश्य: यह निर्धारित करना कि क्या प्राप्त करने वाला सिरा भागों और संयुक्त सामग्रियों के तापीय विस्तार में अंतर के कारण होने वाली विफलता का ठीक से सामना कर सकता है।IEEE1513-5.8 आर्द्रता फ्रीज चक्र परीक्षणउद्देश्य: यह निर्धारित करना कि क्या प्राप्त करने वाला भाग संक्षारण क्षति के लिए पर्याप्त रूप से प्रतिरोधी है और सामग्री अणुओं को फैलाने के लिए नमी के विस्तार की क्षमता रखता है। इसके अलावा, जमे हुए जल वाष्प विफलता के कारण को निर्धारित करने के लिए तनाव है।IEEE1513-5.9 समाप्ति की मजबूती परीक्षणउद्देश्य: तारों और कनेक्टर्स को सुनिश्चित करने के लिए, प्रत्येक भाग पर बाह्य बल लगाएं ताकि यह पुष्टि हो सके कि वे सामान्य हैंडलिंग प्रक्रियाओं को बनाए रखने के लिए पर्याप्त मजबूत हैं।IEEE1513-5.10 नम ताप परीक्षण (नम ताप परीक्षण)उद्देश्य: लंबे समय तक नमी के प्रवेश को झेलने के लिए रिसीविंग एंड के प्रभाव और क्षमता का मूल्यांकन करना।EEE1513-5.11 ओला प्रभाव परीक्षणउद्देश्य: यह निर्धारित करना कि क्या कोई घटक, विशेष रूप से कंडेनसर, ओलों से बच सकता है।EE1513-5.12 बाईपास डायोड थर्मल परीक्षण (बाईपास डायोड थर्मल परीक्षण)उद्देश्य: मॉड्यूल थर्मल शिफ्ट डिफ्यूजन के प्रतिकूल प्रभावों को सीमित करने के लिए सापेक्ष दीर्घकालिक विश्वसनीयता के साथ पर्याप्त थर्मल डिजाइन और बाईपास डायोड के उपयोग की उपलब्धता का मूल्यांकन करना।IEEE1513-5.13 हॉट-स्पॉट सहनशक्ति परीक्षण (हॉट-स्पॉट सहनशक्ति परीक्षण)उद्देश्य: समय के साथ आवधिक ताप परिवर्तन को झेलने के लिए मॉड्यूल की क्षमता का आकलन करना, जो आमतौर पर विफलता परिदृश्यों जैसे गंभीर रूप से दरारयुक्त या बेमेल सेल चिप्स, एकल बिंदु खुले सर्किट विफलताओं, या असमान छाया (छायांकित भागों) से जुड़ा होता है।EEE1513-5.14 आउटडोर एक्सपोजर परीक्षण (आउटडोर एक्सपोजर परीक्षण)उद्देश्य: बाहरी वातावरण (पराबैंगनी विकिरण सहित) के संपर्क में आने की मॉड्यूल की क्षमता का प्रारंभिक आकलन करने के लिए, प्रयोगशाला परीक्षण द्वारा उत्पाद की कम प्रभावशीलता का पता नहीं लगाया जा सकता है।IEEE1513-5.15 ऑफ-एक्सिस बीम क्षति परीक्षणउद्देश्य: यह सुनिश्चित करना कि संकेन्द्रित सौर विकिरण किरण के मॉड्यूल विचलन के कारण मॉड्यूल का कोई भी भाग नष्ट न हो।
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