ओवन-256-10W जल-शीतित उच्च और निम्न तापमान आयु निर्धारण और कार्यात्मक परीक्षण प्रणाली

ओवन-256-10W एक उच्च घनत्व परीक्षण प्रणाली है जिसे NVMe SSDs की कठोर प्रदर्शन परीक्षण आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए डिज़ाइन किया गया है, जो एक साथ 256 ड्राइव तक का परीक्षण करने में सक्षम है। यह -10°C से 85°C के तापमान रेंज में काम करता है और NVMe Ver2.0 प्रोटोकॉल विनिर्देश के साथ नवीनतम PCIe Gen5 x4 इंटरफ़ेस का समर्थन करता है। प्रत्येक परीक्षण स्लॉट में SSD पावर सप्लाई वोल्टेज पर स्वतंत्र नियंत्रण होता है, जिसमें 0V से 14.5V तक वोल्टेज मार्जिनिंग शामिल है। SSD उत्पादन परीक्षण के लिए एक परिपक्व ढांचे पर निर्मित, यह प्रणाली R&D पायलट परीक्षण—जिसमें EVT, DVT और PVT शामिल हैं—के साथ-साथ MP, ORT और ODT जैसे बड़े पैमाने पर उत्पादन गुणवत्ता और विश्वसनीयता परीक्षणों के लिए व्यापक समर्थन प्रदान करती है।

उत्पाद की विशेषताएँ

• तापमान नियंत्रण सीमा: -10°C से 85°C;
• तापमान परिवर्तन दर: 1°C प्रति मिनट;
• PCIe Gen5 x4 का समर्थन करता है;
• प्रत्येक परीक्षण पोर्ट की बिजली आपूर्ति वोल्टेज को स्क्रिप्ट प्रोग्रामिंग के माध्यम से नियंत्रित किया जा सकता है, जिसमें 0.6V – 14.5V की समायोज्य सीमा और 1mV की नियंत्रण सटीकता होती है;
• नवीनतम NVMe Ver2.0 प्रोटोकॉल के साथ संगत और उपयोगकर्ता-परिभाषित NVMe कमांड का समर्थन करता है;
• व्यापक स्क्रिप्ट लाइब्रेरी और एक शक्तिशाली डेटाबेस विश्लेषण प्रणाली;
• एलटीवुल्फ सॉफ्टवेयर ग्राहक आवश्यकताओं के आधार पर अतिरिक्त कस्टम सुविधाओं का समर्थन करता है;
• ग्राहक एमईएस प्रणालियों के साथ सहज एकीकरण, उत्पादन डेटा प्रबंधन प्रणालियों के लिए वैकल्पिक अनुकूलन के साथ;
• फ़ायरवॉल सुरक्षा डिज़ाइन परीक्षण सर्किट और परीक्षण के तहत उपकरणों (DUT) के बीच पूर्ण अलगाव सुनिश्चित करता है;
• व्यापक और सिद्ध परीक्षण एल्गोरिदम, जिनमें EVT, DVT, RDT, TVM, आदि शामिल हैं।