क्या टैंटालम कैपेसिटर "ठंड या गर्मी" के प्रतिरोधी हैं? --आइए ड्रैगन तापमान बल प्रणाली से उत्तर खोजें--फ्रोइलाबो

क्या टैंटालम कैपेसिटर "ठंड या गर्मी" के प्रतिरोधी हैं? --आइए ड्रैगन तापमान बल प्रणाली से उत्तर खोजें--फ्रोइलाबो

मोबाइल संचार प्रौद्योगिकी के निरंतर नवाचार और प्रगति के साथ, मानव समाज सूचना युग में प्रवेश कर चुका है। सूचना युग के तेजी से विकास के साथ, सभी प्रकार के इलेक्ट्रॉनिक स्मार्ट डिवाइस और संचार उपकरण लगातार नवाचार कर रहे हैं, जिससे लोगों के जीवन में सुविधा आ रही है। कई इलेक्ट्रॉनिक और संचार उत्पादों में, प्रत्येक घटक उत्पाद के उपयोग में महत्वपूर्ण भूमिका निभाता है। उनमें से, टैंटलम कैपेसिटर आकार में छोटे होते हैं, लेकिन बड़ी क्षमता प्राप्त कर सकते हैं, उत्कृष्ट प्रदर्शन के कारण, वे न केवल सैन्य संचार, एयरोस्पेस और अन्य क्षेत्रों में व्यापक रूप से उपयोग किए जाते हैं, बल्कि औद्योगिक नियंत्रण, फिल्म और टेलीविजन उपकरण, संचार उपकरण और अन्य उत्पादों में भी उपयोग किए जाते हैं। इसके अलावा, टैंटलम कैपेसिटर के कमजोर वोल्टेज और वर्तमान प्रतिरोध के कारण, तीन सामान्य विफलता मोड मुख्य रूप से वोल्टेज प्रकार, वर्तमान प्रकार और गर्मी प्रकार हैं, और विफलता के बाद फट दहन का कारण बनना आसान है। इसलिए, टैंटलम कैपेसिटर को आवेदन से पहले विफलता विश्लेषण के अधीन होना चाहिए। टैंटलम कैपेसिटर पर परिवेश के तापमान परिवर्तन के प्रभाव की जांच करने के लिए, ड्रैगन तापमान बल प्रणाली - फ्रोइलाबो निस्संदेह सबसे अच्छा विकल्प है। यह "ईएससीसी इनरश करंट टैंटालम कैपेसिटर" मानक के अनुसार टैंटालम कैपेसिटर का परीक्षण और प्रमाणन कर सकता है।

ड्रैगन तापमान बल प्रणाली--फ्रोइलाबो

ड्रैगन तापमान बल प्रणाली--फ्रोइलाबो अत्यधिक तापमान वाले वातावरण और घटकों को थर्मल शॉक का अनुकरण करने के लिए तेजी से गर्म करने और ठंडा करने में सक्षम है। ड्रैगन एयर कूलिंग तापमान नियंत्रण मोड का उपयोग करता है, जिसका उपयोग -72 ° C से +225 ° C तक अल्ट्रा-लॉन्ग निरंतर तापमान नियंत्रण के लिए किया जा सकता है। जैसा कि नीचे चित्र 1 में दिखाया गया है, ड्रैगन तापमान बल प्रणाली--फ्रोइलाबो संधारित्र का परीक्षण कर रहा है, संधारित्र को इलेक्ट्रॉनिक डिवाइस पर स्थापित कर रहा है, प्रत्यक्ष धारा के स्थिर आउटपुट को पारित कर रहा है, और आउटपुट छोर पर छोटा शोर (तरंग) उत्पन्न कर रहा है, परीक्षण का उद्देश्य यह सत्यापित करना है कि संधारित्र अत्यधिक तापमान के तहत सामान्य रूप से काम कर सकता है।

चित्र 1 टैंटालम संधारित्र परीक्षण - नई ड्रैगन तापमान बल प्रणाली--फ्रोइलाबो

आम तौर पर, परीक्षण की स्थिति -55 ° C और +85 ° C के बीच 10 चक्रों के लिए संधारित्र को चार्ज और डिस्चार्ज करना है (सीमा परीक्षण तापमान +125 ° C या +200 ° C तक समायोजित किया जा सकता है, जिसे विभिन्न अनुप्रयोगों के लिए समायोजित किया जा सकता है)। इलेक्ट्रॉनिक घटक के सर्किट स्विच का योजनाबद्ध आरेख नीचे चित्रा 2 में दिखाया गया है। जब यांत्रिक स्विच 1 बंद होता है, तो संधारित्र पर एक निश्चित वोल्टेज लागू होता है, और सर्किट को शॉर्ट सर्किट माना जाता है, इसलिए वर्तमान मूल्य बड़ा होता है; जब संधारित्र चार्जिंग स्थिति में होता है और वर्तमान मूल्य लगभग शून्य होता है; जब स्विच 2 बंद होता है, तो सर्किट वोल्टेज 0V होता है, जिस समय संधारित्र डिस्चार्ज स्थिति में होता है जब तक कि वर्तमान लगभग शून्य न हो जाए।

चित्र 2 निरीक्षण में इलेक्ट्रॉनिक घटक

चित्र 3 परीक्षणाधीन टैंटालम संधारित्र

चार्जिंग और डिस्चार्जिंग के 10 चक्रों के बाद, प्रत्येक संधारित्र के लीकेज करंट को मापा जाता है ताकि उस पर तापमान परिवर्तन के प्रभाव की जांच की जा सके।

चित्र 4 टैंटालम कैपेसिटर की लीकेज करंट का पता लगाना

चित्र 4 में संधारित्र से गुजरने वाली शेष धारा (I) को दिखाया गया है, जब इसे उसके रेटेड करंट (Ur) तक पूरी तरह से चार्ज किया जाता है, जिसे µA में प्रत्येक चार्ज के 5 मिनट के भीतर मॉनिटर किया जाता है। लीकेज करंट एक संधारित्र के इन्सुलेशन प्रतिरोध के बराबर है, इसलिए इसे जितना संभव हो उतना कम होना चाहिए। लीकेज करंट का मान कैपेसिटेंस मान और प्रतिरोध मान का एक फंक्शन है। नीचे दिया गया चित्र 5 तापमान के साथ लीकेज करंट मान में होने वाले बदलाव को रिकॉर्ड करता है।

（20℃ तापमान）

चित्र 5 रिसाव धारा मान का तापमान परिवर्तन के साथ संबंध

जैसा कि नीचे चित्र 6 और चित्र 7 में दिखाया गया है, वह संधारित्र जिसका रिसाव धारा मान कम समय में लगभग शून्य हो जाता है, विफलता विश्लेषण परीक्षण पास कर सकता है; वह संधारित्र जिसका रिसाव धारा मान बाहरी तापमान के परिवर्तन के साथ उतार-चढ़ाव करता है, उसे विफलता घटक माना जाता है, और विफलता के बाद फट दहन का कारण बनना आसान होता है।

चित्र 6 समय के साथ संधारित्र की लीकेज धारा में परिवर्तन

चित्र 7 टैंटालम कैपेसिटर का विफलता विश्लेषण परीक्षण