विश्वसनीयता - पर्यावरणविश्वसनीयता विश्लेषण उत्पाद की गुणवत्ता के आधार के रूप में मात्रात्मक डेटा पर आधारित है, प्रयोगात्मक सिमुलेशन के माध्यम से, किसी निश्चित समय में उत्पाद, पर्यावरण की स्थिति का विशिष्ट उपयोग, विशिष्ट विनिर्देशों का कार्यान्वयन, कार्य उद्देश्यों के सफल समापन की संभावना, उत्पाद की गुणवत्ता आश्वासन के आधार के रूप में मात्रात्मक डेटा पर आधारित है। उनमें से, पर्यावरण परीक्षण विश्वसनीयता विश्लेषण में एक सामान्य विश्लेषण आइटम है।पर्यावरण विश्वसनीयता परीक्षण एक ऐसा परीक्षण है जो यह सुनिश्चित करने के लिए किया जाता है कि किसी उत्पाद की कार्यात्मक विश्वसनीयता निर्दिष्ट जीवन अवधि के दौरान, उन सभी परिस्थितियों में बनी रहे, जिनमें इसका उपयोग, परिवहन या भंडारण किया जाना है। विशिष्ट परीक्षण विधि उत्पाद को प्राकृतिक या कृत्रिम पर्यावरणीय परिस्थितियों में उजागर करना, वास्तविक उपयोग, परिवहन और भंडारण की पर्यावरणीय परिस्थितियों में उत्पाद के प्रदर्शन का मूल्यांकन करना और पर्यावरणीय कारकों के प्रभाव और उनकी क्रिया के तंत्र का विश्लेषण करना है।सेम्बकॉर्प की नैनो विश्वसनीयता विश्लेषण प्रयोगशाला मुख्य रूप से तापमान, आर्द्रता, पूर्वाग्रह, एनालॉग IO और अन्य स्थितियों को बढ़ाकर और IC डिज़ाइन आवश्यकताओं के अनुसार उम्र बढ़ने में तेजी लाने के लिए स्थितियों का चयन करके IC विश्वसनीयता का मूल्यांकन करती है। मुख्य परीक्षण विधियाँ इस प्रकार हैं:टीसी तापमान चक्र परीक्षणप्रायोगिक मानक: JESD22-A104उद्देश्य: नमूने पर तापमान परिवर्तन के प्रभाव को तेज करनापरीक्षण प्रक्रिया: नमूने को एक परीक्षण कक्ष में रखा जाता है, जो निर्दिष्ट तापमानों के बीच चक्र करता है और प्रत्येक तापमान पर कम से कम दस मिनट तक रखा जाता है। तापमान चरम सीमा परीक्षण विधि में चुनी गई स्थितियों पर निर्भर करती है। कुल तनाव निर्दिष्ट तापमान पर पूरे किए गए चक्रों की संख्या के अनुरूप होता है।उपकरण की क्षमतातापमान की रेंज -70℃—+180℃तापमान परिवर्तन दर15℃/मिनट रैखिकआंतरिक आयतन 160एलआंतरिक आयाम W800*H500 * D400मिमीबाह्य आयामW1000 * H1808 * D1915मिमीनमूने की मात्रा 25 / 3लॉटधींगा मुश्ती 700 चक्र / 0 असफल2300 चक्र / 0 असफलबीएलटी उच्च तापमान पूर्वाग्रह परीक्षणप्रायोगिक मानक: JESD22-A108उद्देश्य: नमूनों पर उच्च तापमान पूर्वाग्रह का प्रभावपरीक्षण प्रक्रिया: नमूने को प्रायोगिक कक्ष में रखें, बिजली आपूर्ति में निर्दिष्ट वोल्टेज और वर्तमान सीमा मान सेट करें, कमरे के तापमान पर चलाने का प्रयास करें, देखें कि बिजली आपूर्ति में सीमित धारा होती है या नहीं, मापें कि इनपुट चिप टर्मिनल वोल्टेज अपेक्षा को पूरा करता है या नहीं, कमरे के तापमान पर वर्तमान मान रिकॉर्ड करें, और कक्ष में निर्दिष्ट तापमान सेट करें। जब तापमान सेट मूल्य पर स्थिर हो जाता है, तो उच्च तापमान पर बिजली चालू करें और उच्च तापमान वर्तमान मान रिकॉर्ड करेंउपकरण क्षमता:तापमान की रेंज +20℃—+300℃आंतरिक आयतन 448एलआंतरिक आयाम W800*H800 * D700मिमीबाह्य आयामW1450 * H1215 * D980मिमीनमूने की मात्रा 25 / 3लॉटधींगा मुश्ती केस तापमान 125℃, 1000hrs/ 0 विफलHAST अत्यधिक त्वरित तनाव परीक्षणप्रायोगिक मानक: JESD22-A110/A118 (EHS-431ML, EHS-222MD)उद्देश्य: HAST तापमान, आर्द्रता, दबाव और पूर्वाग्रह सहित निरंतर कई तनाव की स्थिति प्रदान करता है। आर्द्र वातावरण में काम करने वाले गैर-संलग्न पैकेज्ड उपकरणों की विश्वसनीयता का आकलन करने के लिए किया गया। कई तनाव की स्थिति एनकैप्सुलेशन मोल्ड कंपाउंड के माध्यम से या बाहरी सुरक्षात्मक सामग्री और एनकैप्सुलेशन से गुजरने वाले धातु कंडक्टर के बीच इंटरफेस के साथ नमी की घुसपैठ को तेज कर सकती है। जब पानी नंगे टुकड़े की सतह तक पहुँचता है, तो लागू क्षमता एक इलेक्ट्रोलाइटिक स्थिति स्थापित करती है जो एल्यूमीनियम कंडक्टर को खराब करती है और डिवाइस के डीसी मापदंडों को प्रभावित करती है। चिप की सतह पर मौजूद संदूषक, जैसे क्लोरीन, संक्षारण प्रक्रिया को बहुत तेज कर सकते हैं। इसके अलावा, निष्क्रियता परत में बहुत अधिक फास्फोरस भी इन स्थितियों के तहत प्रतिक्रिया कर सकता है।डिवाइस 1 और डिवाइस 2उपकरण क्षमता:नमूने की मात्रा 25 / 3लॉटधींगा मुश्ती 130℃，85%आरएच, 96घंटे/ 0 विफल110℃，85%RH ,264hrs/ 0 विफलडिवाइस 1तापमान की रेंज-105℃—+142.9℃आर्द्रता सीमा 75%आरएच—100%आरएचदबाव सीमा 0.02—0.196एमपीएआंतरिक आयतन 51एलआंतरिक आयाम W355*H355 * D426मिमीबाह्य आयामW860 * H1796 * D1000मिमीडिवाइस 2तापमान की रेंज-105℃—+142.9℃आर्द्रता सीमा 75%आरएच—100%आरएचदबाव सीमा 0.02—0.392एमपीएआंतरिक आयतन 180एलआंतरिक आयाम W569*H560 * D760मिमीबाह्य आयामW800 * H1575 * D1460मिमीटीएचबी तापमान और आर्द्रता चक्र परीक्षणप्रायोगिक मानक: JESD22-A101उद्देश्य: नमूने पर तापमान और आर्द्रता परिवर्तन का प्रभावप्रायोगिक प्रक्रिया: नमूने को प्रायोगिक कक्ष में रखें, बिजली आपूर्ति में निर्दिष्ट वोल्टेज और वर्तमान सीमा मान सेट करें, कमरे के तापमान पर चलाने का प्रयास करें, देखें कि बिजली आपूर्ति में सीमित धारा होती है या नहीं, मापें कि इनपुट चिप टर्मिनल वोल्टेज अपेक्षा को पूरा करता है या नहीं, कमरे के तापमान पर वर्तमान मान रिकॉर्ड करें, और कक्ष में निर्दिष्ट तापमान सेट करें। जब तापमान सेट मूल्य पर स्थिर हो जाता है, तो उच्च तापमान पर बिजली चालू करें और उच्च तापमान वर्तमान मान रिकॉर्ड करेंउपकरण क्षमता:तापमान की रेंज-40℃—+180℃आर्द्रता सीमा 10%आरएच—98%आरएचतापमान रूपांतरण दर3℃/मिनटआंतरिक आयतन 784एलआंतरिक आयाम W1000*H980 * D800मिमीबाह्य आयामW1200 * H1840 * D1625मिमीनमूने की मात्रा 25 / 3लॉटधींगा मुश्ती 85℃，85%RH,1000hrs/ 0 विफलप्रक्रिया तापमान और आर्द्रता चक्र, 100 ℃ से अधिक तापमान पर कोई आर्द्रता नहीं होती है टीएसए और टीएसबी तापमान शॉक परीक्षणप्रायोगिक मानक: JESD22-A106उद्देश्य: नमूने पर तापमान परिवर्तन के प्रभाव को तेज करनापरीक्षण प्रक्रिया: नमूने को परीक्षण कक्ष में रखा जाता है, और कक्ष के अंदर निर्दिष्ट तापमान सेट किया जाता है। गर्म होने से पहले, यह पुष्टि की जाती है कि नमूना मोल्ड पर स्थिर हो गया है, जिससे प्रयोग के दौरान कक्ष में गिरने से नमूने को नुकसान से बचाया जा सके।उपकरण क्षमता: टीएसए टीएसबीतापमान की रेंज-70℃—+200℃ -65℃—+200℃तापमान परिवर्तन दर≤5मिनट <20एसआंतरिक आयतन70एल 4.5एल आंतरिक आयाम W410*H460 * D3700मिमी W150*H150 * D200मिमीबाह्य आयामW1310 * H1900 * D1770मिमी W1200 * H1785 * D1320मिमी
एक कहावत कहना
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